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磁学测量系统-MPMS3
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多功能振动样品磁强计 VersaLab 系统
(重86 kg高1.31m) VersaLab是一种经济型的PPMS系统(Quantum Design公司一种广为认可的材料研究大平台),因为VersaLab上的测量选件如磁学、电输运、比热等
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Opal 光学参数自动测量系统
简单 主要技术指标系统测试技术基于夏克-哈特曼波前测量技术测试软件Sensoft测试能力(Single Pass光路)各种透射性光学元件和光学系统,如透镜、镜头、滤光片等测试能力(double
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磁学量的测量仪表
PC5200 PH/电导率仪1、主要技术参数 1.1 测量范围 pH: (-2.000~19.999)pH mV:(±1999.9)Mv 电导率:0.00μS
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芯宸科技MEMF50材料电磁参数测量系统
测试装置与系统 脉冲时域场强测量系统(300MHz~3GHz)衣物RFID在线检测系统 微波同轴开关矩阵多功能高精度毫米波通用测试平台波导/同轴 S参数测量精密平台 介质材料电磁属性测量
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吉时利参数测试系统
的五英寸探针卡库成熟的仪器技术可确保实验室和晶圆厂的高测量精度和可重复性提供SECS / GEM与300毫米晶圆厂的集成S535功能在多站点并行或串行操作中自动执行所有晶圆级DC参数测试。一次触地测试
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港东XGS-9A高斯光束参数测量及光束整形实验系统
软件的光斑测量系统。测量了He-Ne激光器的光束光强分布,计算出高斯光束参数,并用双曲线拟合法测量出质量因子。整套系统光路结构简单,使用面阵CCD作为探测系统,并对图像进行必要的处理。随后选取经过校准
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港东XGS-9 高斯光束参数测量及透镜变换实验系统
配置 本实验研究高斯光束 的特性参数,以及高斯光 束通过薄透镜的传输和变 换性质,重点对光束质量 的评价和测量进行了阐述。 建立了一套以CCD为光 斑探测器,结合计算机和 测量软件的光斑测量系统。测量
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薄膜厚度测量系统
产地属性欧洲价格范围10万-30万这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器。 这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展
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在线眩光测量系统
,推出了同时包含UGR,GR,TI三类眩光评价指标的眩光测试系统,以及道路照明测试系统。此系统可以通过Glare软件控制相机实现在线式的测量,测量和计算眩光参数可以一次性完成 在线眩光测量系统基于
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